Anwendungen aus der Praxis
Tecap wird in unterschiedlichsten Test-, Mess- und Produktionsumgebungen eingesetzt. Die folgenden Beispiele zeigen, wie wir vorhandene Testtechnik integrieren, Anlagen modernisieren und Testprozesse mit Tecap zusammenführen.
Vorhandene Technik weiter nutzen
Viele Testanlagen enthalten Messtechnik, Adapter und Mechanik, die ihre Aufgabe weiterhin zuverlässig erfüllen. Eine Modernisierung muss deshalb nicht bedeuten, die komplette Anlage zu ersetzen.
Wir analysieren die vorhandene Umgebung und betrachten, welche Komponenten weiterverwendet werden können, welche Schnittstellen angebunden werden müssen und wie bestehende Testprogramme und Prozesse in Tecap überführt werden können.
Unsere Erfahrung aus der Entwicklung und Umsetzung komplexer Testsysteme ist dafür ein wesentlicher Bestandteil. Denn eine Testsoftware kann nur dann zuverlässig integrieren, wenn sie auch die Messtechnik, Signalwege, Prüflingsschnittstellen und Prozesse dahinter versteht.
- bestehende Testanlagen weiterverwenden und modernisieren
- vorhandene Testprogramme migrieren
- Messgeräte und Schnittstellen unterschiedlicher Hersteller integrieren
- Testabläufe mit Produktionsprozessen verbinden
- Ergebnisse, Rückverfolgbarkeit und Prozessdaten zusammenführen
Automotive
RF, CAN und Hochstrom in einem Testsystem
Für ein Automotive-Steuergerät mit Keyless-Entry-Funktion wurden sehr unterschiedliche Prüfaufgaben innerhalb einer gemeinsamen Tecap-Umgebung integriert.
Neben klassischen elektrischen Messungen gehörten dazu RF-Kommunikation mit GFSK-Modulation, Eingangsempfindlichkeit und Ausgangsleistung sowie umfangreiche CAN-Kommunikation und Hochstromkanäle für Spiegel- und Fensterhebermotoren.
- PXI-Instrumentierung mit Schaltmatrix, DMM, Vector Analyzer und Vector Generator
- Integration einer kalibrierten RF-Prüfumgebung
- CAN-Bus-Kommunikation
- Hochstrommessungen und Lastansteuerung
- Testprogramme vom Erstmuster bis zur Produktion
RF-Prüfkammer mit integrierter Signal- und Gerätesteuerung
Bestehendes Kundentestsystem migriert
Bei diesem Automotive-/EMS-Projekt stand nicht eine neue Testhardware im Mittelpunkt. Eine bestehende Kundenanlage sollte weiterverwendet und softwareseitig modernisiert werden.
Vorhandene Testprogramme wurden aus Fortran übernommen und die bisher unterschiedlichen Lösungen auf einer gemeinsamen Plattform standardisiert.
- Weiterverwendung des vorhandenen Kundentestsystems
- Konvertierung bestehender Testprogramme aus Fortran
- vollständige Integration der vorhandenen Systemhardware
- Vereinheitlichung bisheriger Lösungen
- Reduzierung der Testzeit um 56 %
- dadurch nahezu Verdopplung des Durchsatzes
Das Projekt zeigt beispielhaft, wie bestehende Testanlagen mit Tecap modernisiert werden können, ohne funktionierende Hardware grundsätzlich ersetzen zu müssen.
Halbleiter und industrielle Anwendungen
Sensortest auf Waferlevel
Bei einem Halbleiterprojekt wurden Sensoren bereits auf Waferlevel geprüft. Die besondere Herausforderung lag in der hochpräzisen Messung von Widerstandsbrücken und der Integration des Waferprobers in den automatisierten Prozess.
Für die erforderliche Messgenauigkeit wurde zusätzlich ein Guardverstärker entwickelt und über die Schaltmatrix automatisiert auf die jeweiligen Messpunkte geschaltet.
- EG Waferprober
- PXI-Matrixsystem
- Keysight 34470A DMM
- Autorouting über Tecap Switching
- Prozesssteuerung und Prober-Anbindung
- Datalogging und Wafer Mapping
- Anbindung an die Kundendatenbank
Damit verband Tecap Messtechnik, Signalverschaltung, Anlagensteuerung und Ergebnisdaten innerhalb eines gemeinsamen Testprozesses.
Testsystem mit EG Waferprober
80.000 Signale in Kraftwerksleitstandssystemen
Für den teilautomatisierten Test von Kraftwerksleitstandssystemen mussten rund 80.000 Signale in mehr als 200 Schaltschränken beherrscht werden.
Dafür wurden standardisierte Messbausteine entwickelt, mit denen unterschiedliche Signalarten innerhalb von Tecap einheitlich beschrieben und geprüft werden konnten.
- analoge Ein- und Ausgänge
- binäre Ein- und Ausgänge
- Antriebe und Motoren
- Simulation eines hohen Meldeaufkommens
- PXI-/LXI-Schaltsysteme
- Schaltmatrix mit mehreren tausend Signalpfaden
Das Projekt zeigt, dass sich mit Tecap auch sehr große und heterogene Signalstrukturen systematisch abbilden lassen.
Produktion und Prozessintegration
Produktionstest mit Duplex-Adapter
Bei diesem Projekt übernahm Tecap nicht nur die eigentlichen Messungen. Die Software koordinierte den vollständigen Ablauf zwischen Bedienpersonal, Prüfling, Adapter, Testsystem und Kennzeichnung.
Zwei Adapterschubladen konnten dabei wechselweise betrieben werden, um Rüst- und Bedienzeiten parallel zum laufenden Test zu nutzen.
- Produktauswahl und Identifikation per 2D-Code
- automatische Steuerung zweier Adapterschubladen
- Systemfreigabe mit protokollierten Golden Devices
- Pass-/Fail-Auswertung
- automatischer Labeldruck
- Prüfung der korrekten Kennzeichnung
- Retest-Erkennung und Rückverfolgbarkeit
- Kontaktzähler für die vorbeugende Adapterwartung
Das Beispiel verdeutlicht, dass ein automatisiertes Testsystem nicht an der Messung endet. Produktionslogik, Bedienablauf und Rückverfolgbarkeit sind ebenso Teil der Integration.
Weitere Geräte- und Systemintegrationen
Nicht jedes Projekt benötigt eine vollständig neue Testumgebung. Häufig besteht die Aufgabe darin, vorhandene Komponenten verschiedener Generationen und Hersteller innerhalb einer gemeinsamen Softwarelösung zusammenzuführen.
Beispiele aus realisierten Projekten:
- intelligente Akkus und Ladegeräte
- PXI-Systeme mit Pickering- und NI-Komponenten
- PCI- und GPIB-Messgeräte
- CANopen-Kommunikation
- On-Board-Programmierung
- bestehende MTQ- und Kundentestsysteme
- unterschiedliche Messgeräte und Signalquellen
Tecap ist dabei nicht an eine bestimmte Geräteplattform gebunden. Entscheidend ist, die für die Prüfaufgabe geeignete Hardware zuverlässig in Testablauf und Prozess zu integrieren.