Halbleitertest auf der Tecap Platform

Test Engineering

Tecap Automated Test Platform bietet alle Funktionen die zur Steuerung von Testsystemen (ATE) für den Halbleitertest notwendig sind. Die Tecap Platform ist hardware-offen und kann mit kundenspezifische Hardware-Setups umgehen.

Die Kommunikation mit Testhandlern und Waferprobern ist bereits vorbereitet.

Multi-Site Test-Setups können per Konfiguration erstellt werden. In der Testprogrammprogrammierung ist es unerheblich ob es ein Single-Site oder Multi-Site Setup ist, der Code ist immer gleich. Die Site-Auflösung der Messgeräte und Zuordnung der Messergebnisse passiert im Hintergrund auf Basis der Konfiguration. So kann der Multi-Site-Test im Handumdrehen auf weitere Sites skaliert werden, ohne den Testcode zu bearbeiten.

Semiconductor Feature-Set

  • Parallel/Serial Multi Site Test
  • Identischer Testcode für Single/Multi-Site
  • Binning (Hardware/Software)
  • Wafer Maps
  • Schnittstelle für Wafer Prober/Handler Plugins
  • Data Logging STDFv4

STDFv4 Standard/Kundenspezifisch

Das STDF (Standard Test Data Format) ist ein record-orientiertes, binäres Datenformat zum Speichern von Messdaten in der ATE-Branche. Das Format ist Standard und wird häufig angewendet, wenn ein Testsystem in eine Halbleiter-Produktionsumgebung eingebunden werden soll. Obwohl es einen formalen Standard darstellt, gibt es je nach Halbleiterhersteller unterschiedliche inhaltliche Ergänzungen. MTQ bietet Unterstützung für individuelle Anpassungen. Der Standard wird von allen Testerherstellern unterstützt und wird von der IEEE Test Technology Standards Group und durch SEMI weiterentwickelt.

Automated Test with Passion.